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光譜匹配度(AM1.5G):A+級模擬器光譜偏差≤±5%,確保測試結(jié)果接近真實光照條件。
瞬態(tài)穩(wěn)定性:光強波動<±1%/h,避免功率測量漂移(如Berger Lichttechnik的PAS系列)。
IV曲線掃描:高速數(shù)據(jù)采集(<10ms/曲線),精準定位組件“臺階”缺陷(如隱裂、PID)。
EL(電致發(fā)光)聯(lián)動:同步IV測試與EL成像,快速定位微觀缺陷(如Halm的IV-EL一體機)。
環(huán)境參數(shù)補償:實時校準溫度(±0.5℃)、輻照度(±2%),輸出STC(標準測試條件)數(shù)據(jù)。
在線檢測:集成至產(chǎn)線(如Spire的Flash tester),測試速度≤3秒/組件,支持***全檢。
AI分析:通過歷史數(shù)據(jù)預(yù)測組件衰減趨勢(如PVEL的Qualification Plus認證)。
不清楚
不知道
不了解